薄膜/紙張厚度表

價(jià)格
電議

型號(hào)
薄膜/紙張厚度表

品牌
XF802-P30

所在地
暫無

更新時(shí)間
2024-08-05 12:31:45

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      XF802-P30厚度表用來測(cè)量薄膜，紙張，塑料等薄片材料的厚度。該儀器可以和Testex拓片紙配合使用，測(cè)量表面處理后的表面粗糙度。
    執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn): NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5

     

    技術(shù)指標(biāo)：

    儀器型號(hào)

       XF802-P30

    測(cè)量范圍

       0-1000 μm

    顯  示

       1 μm

    儀器尺寸

       125*95*25 mm

    重       量

       270 g

    裝  箱  單

       SP300主機(jī), 說明書和合格證


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