關(guān)于什么是膜厚計(jì)玉崎

2024/11/16 14:44:49

膜厚計(jì)是一種測量物體微小厚度的裝置。

例如，它用于檢查難以目視測量的薄膜，例如漆膜或金屬鍍層的厚度。膜厚計(jì)的測量方法有多種，根據(jù)測量對(duì)象是否透光、接觸式還是非接觸式來選擇測量方法。

膜厚計(jì)的應(yīng)用
漆膜測厚儀主要用于測量涂漆表面漆膜的厚度。繪畫應(yīng)用于許多日常物品，如家用電器、汽車和其他日常用品，不僅可以保持美觀，還可以增加耐用性。

漆膜厚度必須適當(dāng)、均勻。如果漆膜厚度不合適，即漆膜太厚，會(huì)產(chǎn)生裂紋，太薄，則會(huì)產(chǎn)生變色、失光、基面劣化等問題。另外，如果不均勻，耐久性也會(huì)因地點(diǎn)而異，導(dǎo)致無法保持品質(zhì)等問題。

因此，出于質(zhì)量控制的目的，通常的做法是使用膜厚儀來測量和控制各種產(chǎn)品的膜厚。膜厚計(jì)有多種類型，根據(jù)測量對(duì)象使用適當(dāng)?shù)难b置。例如，當(dāng)測量透明薄膜的厚度時(shí)，使用使用寬帶光的光譜干涉膜厚計(jì)或使用紅外光的紅外膜厚計(jì)。

然而，這些方法不能用于金屬，因?yàn)樗鼈儾辉试S光穿過它們。測量金屬鍍層等薄膜時(shí)，適合使用利用磁通量變化的電磁式膜厚計(jì)和利用渦流的渦流式膜厚計(jì)。此外，如果難以觸摸被測物體，也可使用超聲波涂層測厚儀等非接觸式涂層測厚儀。

膜厚計(jì)原理
膜厚計(jì)的測量方法有多種，根據(jù)測量對(duì)象使用合適的裝置。以下五種方法具有代表性。

1、光譜干涉膜厚儀
利用光干涉的膜厚計(jì)。當(dāng)光線進(jìn)入待測物體時(shí)，會(huì)在薄膜的正面和背面發(fā)生反射。這兩個(gè)反射光之間存在相移，并且該相移的發(fā)生取決于薄膜的厚度。當(dāng)波同相位重疊時(shí)，它們會(huì)相互增強(qiáng)，而當(dāng)它們以相反相位重疊時(shí)，它們會(huì)相互減弱，因此可以通過測量這種干涉差來測量厚度。

2、紅外膜厚儀
這是利用紅外線被測量對(duì)象物吸收的原理的膜厚計(jì)。當(dāng)用紅外線照射待測物體時(shí)，根據(jù)待測物體的材料和厚度，特定波長的紅外線被吸收。該特性用于根據(jù)通過劃分透射光或反射光獲得的光譜來測量薄膜厚度。通過預(yù)先測量被測材料的吸收率與膜厚的關(guān)系，可以計(jì)算出被測材料的膜厚。

3、電磁膜厚計(jì)
這是利用磁通密度變化的膜厚計(jì)。這是當(dāng)測量目標(biāo)形成在磁性金屬表面上時(shí)使用的測量方法，磁通量是利用密度變化這一事實(shí)的。但只有當(dāng)被測物體與金屬接觸時(shí)才能使用，且被測物體不是金屬。

4.渦流膜厚計(jì)
渦流膜厚計(jì)利用線圈產(chǎn)生的磁通量的變化來測量被測物體的厚度。通電的線圈周圍會(huì)產(chǎn)生磁通，當(dāng)線圈靠近被測量物時(shí)，磁通會(huì)根據(jù)被測量物的厚度而變化。通過檢測該磁通量的變化來測量被測物體的厚度。

5、超聲波膜厚計(jì)
超聲波膜厚計(jì)是利用超聲波反射的膜厚計(jì)。當(dāng)超聲波從被測物體的表面發(fā)射時(shí)，它會(huì)穿過物體的內(nèi)部并從背面反射。可以根據(jù)反射發(fā)生所需的時(shí)間來測量厚度。

例如，當(dāng)測量玻璃等透明薄膜的厚度時(shí)，使用使用寬帶光的光譜干涉膜厚計(jì)或使用紅外光的紅外膜厚計(jì)。另一方面，這些類型的膜厚計(jì)不能用于不透光的材料，例如金屬。

測量金屬電鍍等薄膜時(shí)，使用利用磁通量變化的電磁式膜厚計(jì)和利用渦流的渦流式膜厚計(jì)。此外，如果難以觸摸被測物體，也可使用超聲波涂層測厚儀等非接觸式涂層測厚儀。

膜厚計(jì)的類型
膜厚計(jì)可分為接觸式、非接觸式、斷面觀察式三種。

1.接觸式膜厚計(jì)
在接觸式膜厚計(jì)中，傳感器部和膜厚計(jì)主體通過電纜連接，通過使傳感器部與測定對(duì)象物接觸來測定膜厚。接觸式膜厚計(jì)有電磁感應(yīng)式、過流式、超聲波式、觸針式等。它是*正統(tǒng)的膜厚計(jì)，根據(jù)性能的不同，可以以數(shù)萬日元到20萬日元的價(jià)格購買。

接觸式膜厚計(jì)使用方便，通過將傳感器部分接觸到想要測量的物質(zhì)來顯示數(shù)值。但是，由于反應(yīng)速度因物質(zhì)而異，因此傳感器部分可能需要等待幾秒鐘才能反應(yīng)。當(dāng)使用接觸式膜厚計(jì)、電磁感應(yīng)式和過電流式時(shí)，需要根據(jù)形成測量目標(biāo)的基板來使用它們。

電磁感應(yīng)型用于鋼鐵等磁性材料，過電流型用于鋁、不銹鋼等非磁性材料。此外，還提供使用兩種方法進(jìn)行測量的雙型，并且通過雙型，可以測量磁性材料和非磁性材料。

2.非接觸式膜厚計(jì)
非接觸式膜厚計(jì)通過從膜厚計(jì)本身發(fā)射光并檢測從膜表面反射的光和穿透膜的光的波長干涉作為光譜來測量膜厚?；旧?，它們用于人們無法到達(dá)的地方，包括反射光譜型、紅外型、電容型和輻射型。由于檢測部分采用高精度半導(dǎo)體元件，因此比接觸式成本更高。

3.斷面觀察式膜厚計(jì)
截面觀察型膜厚計(jì)是TEM、SEM等電子顯微鏡。它用于測量無法使用接觸或非接觸方法測量的極小物質(zhì)。然而，它通常用于研究和技術(shù)開發(fā)，很少在現(xiàn)場使用。

3RT2025-2BP40 西門...

3RH1921-2DA11 西門...