關(guān)于什么是膜厚計(jì)玉崎

2024/11/16 14:44:49

膜厚計(jì)是一種測(cè)量物體微小厚度的裝置。

例如，它用于檢查難以目視測(cè)量的薄膜，例如漆膜或金屬鍍層的厚度。膜厚計(jì)的測(cè)量方法有多種，根據(jù)測(cè)量對(duì)象是否透光、接觸式還是非接觸式來(lái)選擇測(cè)量方法。

膜厚計(jì)的應(yīng)用
漆膜測(cè)厚儀主要用于測(cè)量涂漆表面漆膜的厚度。繪畫應(yīng)用于許多日常物品，如家用電器、汽車和其他日常用品，不僅可以保持美觀，還可以增加耐用性。

漆膜厚度必須適當(dāng)、均勻。如果漆膜厚度不合適，即漆膜太厚，會(huì)產(chǎn)生裂紋，太薄，則會(huì)產(chǎn)生變色、失光、基面劣化等問(wèn)題。另外，如果不均勻，耐久性也會(huì)因地點(diǎn)而異，導(dǎo)致無(wú)法保持品質(zhì)等問(wèn)題。

因此，出于質(zhì)量控制的目的，通常的做法是使用膜厚儀來(lái)測(cè)量和控制各種產(chǎn)品的膜厚。膜厚計(jì)有多種類型，根據(jù)測(cè)量對(duì)象使用適當(dāng)?shù)难b置。例如，當(dāng)測(cè)量透明薄膜的厚度時(shí)，使用使用寬帶光的光譜干涉膜厚計(jì)或使用紅外光的紅外膜厚計(jì)。

然而，這些方法不能用于金屬，因?yàn)樗鼈儾辉试S光穿過(guò)它們。測(cè)量金屬鍍層等薄膜時(shí)，適合使用利用磁通量變化的電磁式膜厚計(jì)和利用渦流的渦流式膜厚計(jì)。此外，如果難以觸摸被測(cè)物體，也可使用超聲波涂層測(cè)厚儀等非接觸式涂層測(cè)厚儀。

膜厚計(jì)原理
膜厚計(jì)的測(cè)量方法有多種，根據(jù)測(cè)量對(duì)象使用合適的裝置。以下五種方法具有代表性。

1、光譜干涉膜厚儀
利用光干涉的膜厚計(jì)。當(dāng)光線進(jìn)入待測(cè)物體時(shí)，會(huì)在薄膜的正面和背面發(fā)生反射。這兩個(gè)反射光之間存在相移，并且該相移的發(fā)生取決于薄膜的厚度。當(dāng)波同相位重疊時(shí)，它們會(huì)相互增強(qiáng)，而當(dāng)它們以相反相位重疊時(shí)，它們會(huì)相互減弱，因此可以通過(guò)測(cè)量這種干涉差來(lái)測(cè)量厚度。

2、紅外膜厚儀
這是利用紅外線被測(cè)量對(duì)象物吸收的原理的膜厚計(jì)。當(dāng)用紅外線照射待測(cè)物體時(shí)，根據(jù)待測(cè)物體的材料和厚度，特定波長(zhǎng)的紅外線被吸收。該特性用于根據(jù)通過(guò)劃分透射光或反射光獲得的光譜來(lái)測(cè)量薄膜厚度。通過(guò)預(yù)先測(cè)量被測(cè)材料的吸收率與膜厚的關(guān)系，可以計(jì)算出被測(cè)材料的膜厚。

3、電磁膜厚計(jì)
這是利用磁通密度變化的膜厚計(jì)。這是當(dāng)測(cè)量目標(biāo)形成在磁性金屬表面上時(shí)使用的測(cè)量方法，磁通量是利用密度變化這一事實(shí)的。但只有當(dāng)被測(cè)物體與金屬接觸時(shí)才能使用，且被測(cè)物體不是金屬。

4.渦流膜厚計(jì)
渦流膜厚計(jì)利用線圈產(chǎn)生的磁通量的變化來(lái)測(cè)量被測(cè)物體的厚度。通電的線圈周圍會(huì)產(chǎn)生磁通，當(dāng)線圈靠近被測(cè)量物時(shí)，磁通會(huì)根據(jù)被測(cè)量物的厚度而變化。通過(guò)檢測(cè)該磁通量的變化來(lái)測(cè)量被測(cè)物體的厚度。

5、超聲波膜厚計(jì)
超聲波膜厚計(jì)是利用超聲波反射的膜厚計(jì)。當(dāng)超聲波從被測(cè)物體的表面發(fā)射時(shí)，它會(huì)穿過(guò)物體的內(nèi)部并從背面反射?？梢愿鶕?jù)反射發(fā)生所需的時(shí)間來(lái)測(cè)量厚度。

例如，當(dāng)測(cè)量玻璃等透明薄膜的厚度時(shí)，使用使用寬帶光的光譜干涉膜厚計(jì)或使用紅外光的紅外膜厚計(jì)。另一方面，這些類型的膜厚計(jì)不能用于不透光的材料，例如金屬。

測(cè)量金屬電鍍等薄膜時(shí)，使用利用磁通量變化的電磁式膜厚計(jì)和利用渦流的渦流式膜厚計(jì)。此外，如果難以觸摸被測(cè)物體，也可使用超聲波涂層測(cè)厚儀等非接觸式涂層測(cè)厚儀。

膜厚計(jì)的類型
膜厚計(jì)可分為接觸式、非接觸式、斷面觀察式三種。

1.接觸式膜厚計(jì)
在接觸式膜厚計(jì)中，傳感器部和膜厚計(jì)主體通過(guò)電纜連接，通過(guò)使傳感器部與測(cè)定對(duì)象物接觸來(lái)測(cè)定膜厚。接觸式膜厚計(jì)有電磁感應(yīng)式、過(guò)流式、超聲波式、觸針式等。它是*正統(tǒng)的膜厚計(jì)，根據(jù)性能的不同，可以以數(shù)萬(wàn)日元到20萬(wàn)日元的價(jià)格購(gòu)買。

接觸式膜厚計(jì)使用方便，通過(guò)將傳感器部分接觸到想要測(cè)量的物質(zhì)來(lái)顯示數(shù)值。但是，由于反應(yīng)速度因物質(zhì)而異，因此傳感器部分可能需要等待幾秒鐘才能反應(yīng)。當(dāng)使用接觸式膜厚計(jì)、電磁感應(yīng)式和過(guò)電流式時(shí)，需要根據(jù)形成測(cè)量目標(biāo)的基板來(lái)使用它們。

電磁感應(yīng)型用于鋼鐵等磁性材料，過(guò)電流型用于鋁、不銹鋼等非磁性材料。此外，還提供使用兩種方法進(jìn)行測(cè)量的雙型，并且通過(guò)雙型，可以測(cè)量磁性材料和非磁性材料。

2.非接觸式膜厚計(jì)
非接觸式膜厚計(jì)通過(guò)從膜厚計(jì)本身發(fā)射光并檢測(cè)從膜表面反射的光和穿透膜的光的波長(zhǎng)干涉作為光譜來(lái)測(cè)量膜厚。基本上，它們用于人們無(wú)法到達(dá)的地方，包括反射光譜型、紅外型、電容型和輻射型。由于檢測(cè)部分采用高精度半導(dǎo)體元件，因此比接觸式成本更高。

3.斷面觀察式膜厚計(jì)
截面觀察型膜厚計(jì)是TEM、SEM等電子顯微鏡。它用于測(cè)量無(wú)法使用接觸或非接觸方法測(cè)量的極小物質(zhì)。然而，它通常用于研究和技術(shù)開發(fā)，很少在現(xiàn)場(chǎng)使用。

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