SSA是一款測量光學器件透射光譜響應的分析系統(tǒng)。其原理采用線性掃頻光源對待測器件進行快速掃描，并結合相干檢測技術獲取待測器件的光譜響應，進而得到待測器件在不同波長下的損耗分布。該系統(tǒng)還可選配GD、CD、PDL、PMD等光學參數測量，系統(tǒng)內置掃頻光源，可應用于光學測量及分析系統(tǒng)的二次開發(fā)。

• 多功能
• C+L、O波段（可選）
• 可擴展掃頻光源
• 可拓展GD、CD、PDL、PMD等光學參數測量
  

• 平面波導器件
• 硅光器件
• 光纖器件
• 波長可調器件、放大器、濾波器
• 光學測量分析二次開發(fā)

1. 1.可升級掃描范圍；
2. 2.可升級動態(tài)范圍到80dB；
3. 3.可升級高功率版本(2mW/5mW)。