臺(tái)式PIDPotential Induced Degradation

價(jià)格
電議

型號(hào)
臺(tái)式PIDPotential Induced Degradation

品牌
布魯克

所在地
暫無

更新時(shí)間
2023-06-02 23:19:03

瀏覽次數(shù)
次

    臺(tái)式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導(dǎo)退化測(cè)試儀，用于c-Si太陽(yáng)能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測(cè)。


    標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016


    可測(cè)量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度



    臺(tái)式PID（Potential Induced Degradation）



        易PID和抗PID的太陽(yáng)能電池重現(xiàn)性



    以上信息由企業(yè)自行提供，信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé)，儀器儀表交易網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
    溫馨提示：為規(guī)避購(gòu)買風(fēng)險(xiǎn)，建議您在購(gòu)買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。

    其他推薦產(chǎn)品

    臺(tái)式PIDPotential Induced Degradation
    臺(tái)式PIDPotenti
    ￥1.00
    MDPpro 晶圓片晶錠壽命檢測(cè)儀
    MDPpro 晶圓片晶錠
    ￥1.00
    多量程X射線納米CT系統(tǒng)2214
    多量程X射線納米CT系統(tǒng)
    ￥1.00
    PDF-2 2020衍射數(shù)據(jù)庫(kù)卡片PDF卡片
    PDF-2 2020衍射
    電議
    MDPmap 晶圓片壽命檢測(cè)儀
    MDPmap 晶圓片壽命
    電議
    MDPlinescan 在線晶圓片晶錠點(diǎn)掃或面掃檢測(cè)
    MDPlinescan
    電議
    MDPinline是一種用于快速定量測(cè)量載流子壽命并集成掃描功能的檢測(cè)
    MDPinline是一種
    電議
    您是不是在找:
    氣相色譜儀液相色譜儀離子色譜儀便攜式色譜儀色譜柱色譜工作站薄層色譜頂空進(jìn)樣器氣體發(fā)生器色譜用耗材色譜配件其它

    首頁(yè)| 關(guān)于我們| 聯(lián)系我們| 友情鏈接| 廣告服務(wù)| 會(huì)員服務(wù)| 付款方式| 意見反饋| 法律聲明| 服務(wù)條款